به نام یکتا خالق بی همتا
دانلود پاورپوینت فوق العاده کامل جهت ارائه پروژه و سمینار با عنوان طیف نگار جرمی یون ثانویه sims در 43 اسلاید
(SIMS : Secondary Ion Mass Spectrometry)
فرمت فایل : پاورپوینت pptx (قابل ویرایش و تغییر)
تعداد صفحات :43 صفحه کامل فایل پاورپوینت به صورت اسلاید
کاربرد فایل :
این فایل جهت تهیه و ارائه پروژه و سمینار و جزوات دروس مهندسی مواد و متالورژی به فرمت پاورپوینت pptx ،گزارش کار دروس مهندسی مواد و متالورژی ،کتاب و طرح درس های دروس مهندسی مواد و متالورژی ،تحقیق، گزارش کارآموزی و کارورزی ، انجام کارهای پژوهشی و تحقیقاتی مانند تهیه مقالات،گزارش کار، طرح درس ، پروژه پایانی ، پایان نامه ، سمینار، پروپوزال و طرح پژوهشی در کلیه سطوح و مقاطع تحصیلی رشته های مختلف فنی و مهندسی که با مباحث طیف نگار جرمی یون ثانویه sims سرو کار دارند بسیار کاربردی و مفید می باشد
تهیه کننده :
mypro.sellfile.ir
شرح مختصر :
به نام خدا
طیف نگار جرمی یون ثانویه sims
(SIMS : Secondary Ion Mass Spectrometry)
فهرست مطالب :
1) مقدمه
2) کاربرد
3) چگونگی کارکرد(تکنیک کار)
4) مزایا
5) محدودیت ها
6) مشخصات نمونه
مقدمه :
روشهای آنالیزی بر مبنای یون ، به دلیل حساسیت و قابلیت آنها برای آشکار کردن تغییرات ترکیب شیمیایی در عمق نمونه (پروفیل عمق) به کار می روند.در روش طیف نگاری جرمی یون ثانویه (SIMS) ، پرتویی از یونهای اولیه که میتواند تا قطر حدود 20 نانومتر متمرکز شود، نمونه را روبش می کند و برای بیرون انداختن یونهای ثانویه از نمونه به کار می رود سپس جرم یون های ثانویه توسط یک طیفنگار جرمی تعیین می شود. این تکنیک مخرب است و لایه اتمهای مورد بررسی از نمونه برداشته می شود.ادامه .....................
فرمت فایل : پاورپوینت (قابل ویرایش و تغییر)
شما می توانید این فایل پاورپوینت فوق العاده کامل را با عنوان طیف نگار جرمی یون ثانویه sims در 43 اسلاید را پس از تکمیل خرید و پرداخت در سایت بانک و ارجاع مجدد به این سایت به طور کامل در اختیارداشته باشید همچنین لینک دانلود این فایل در ادامه پس از خرید به ایمیل شما ارسال می گردد . این فروشگاه همواره و به مناسبت های مختلف ملی و مذهبی اقدام به انتشار کد تخفیف جهت رضایت بیشتر مشتریان می نماید که مشخصات آن در پایان هر خرید در محل درج کد تخفیف و نیز در بالای سایت نمایش داده می شود